全部作者：任学明 贺朝会第1作者单位：西安交通大学核科学与技术学院论文摘要：通过对半导体器件翻转截面与重离子LET值的关系曲线的拟合，结合FOM方法和具体空间轨道环境，在Bayes理论的基础上，提出了小样本情况下预估同类半导体器件在空间轨道上的单粒子翻转率的新方法。应用该方法，预估了小样本情况下同1批次器件在空间轨道上的单粒子翻转率以及1定置信度下的'翻转率预估区间。关键词：半导体器件，单粒子翻转率，Bayes理论，小样本 (浏览全文)发表日期：2007年10月25日同行评议：
1.文章第3部分的内容冗长，回归分析是10分成熟的理论，不需要做详细介绍，建议删减；2.另外，0.5的置信水平是否太低了，请考虑。
