全部作者：曹维国 邓中亮 王峥第1作者单位：北京邮电大学电子工程学院论文摘要：本文回顾了数字集成电路的测试技术；分析了该项技术在对SIM形式封装的`数字集成电路测试中的缺陷和不足；针对目前的测试系统的单1和性能价格比例偏低的情况提出了1种新型的综合测试系统，详细介绍了该系统的工作原理及组成，讨论了该系统的软硬件设计方案，总结了其优点。关键词：用户识别模块，集成电路，测试系统，精密测量单元 (浏览全文)发表日期：2007年07月16日同行评议：
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